中文名稱 | 場[發射]電子顯微術 |
英文名稱 | field [emission] electron microscopy,F[E]EM |
定 義 | 藉助樣品針尖的場致電子發射及其放大圖像來觀察表面結構的技術。 |
套用學科 | 材料科學技術(一級學科),材料科學技術基礎(二級學科),材料科學基礎(三級學科),材料的表征與測試(四級學科) |
中文名稱 | 場[發射]電子顯微術 |
英文名稱 | field [emission] electron microscopy,F[E]EM |
定 義 | 藉助樣品針尖的場致電子發射及其放大圖像來觀察表面結構的技術。 |
套用學科 | 材料科學技術(一級學科),材料科學技術基礎(二級學科),材料科學基礎(三級學科),材料的表征與測試(四級學科) |
場發射電子顯微術(field emission electron micros-copy; FEEM),是藉助樣品針尖的場致電子發射及其放大圖像來觀察表面結構的研究方法。樣品製成針狀,針尖曲率半徑約...
中文名稱 場[發射]電子顯微術 英文名稱 field [emission] electron microscopy,F[E]EM 定義 藉助樣品針尖的場致電子發射及其放大圖像來觀察表面結構的技術。 ...
場電子發射顯微術(FieldEmissionMicroscopy,FEM).FEM在1936年被發明,Müller為了觀察此種場電子的角分布圖像,於是將針尖狀的發射體(emitter)置於玻璃制球形真空腔...
透外電子顯微術簡介 編輯 透射電子顯微術(TEM)是指在透射電子顯微鏡中利用高能電子束通過試樣時產生的各種信息研究試樣物質微觀結構的分析技術 [1] 。...
綜述了低能電子顯微術(LEEM)、低能電子投影顯微術、彈道電子發射顯微術(BEEM)、光發射電子顯微術(PEEM)等低能電子顯微方法,介紹了這些方法得到的許多結果 [2] ...
高壓電子顯微術是指用加速電壓超過500kV的電子顯微鏡對試樣進行顯微分析的技術。高壓電鏡由照明系統、試樣室、成像系統、觀察室、真空系統、高壓缸和控制部分組成,與...
全書共分四部分,分別介紹電子衍射,透射電子顯微術,亞埃尺度電子顯微術和透射電子...5 碳納米管的場致發射6 小結參考文獻D8 在鐵納米顆粒上外延生長的惰性氧化膜...
電子顯微學是用電子顯微鏡研究物質的顯微組織、成分和晶體結構的一門科學技術。...從樣品上物點發射出的散射電子波,經過物鏡的聚焦成像作用在其像面上產生一次...
本書首先闡明與高聚物材料相關的電子顯微術特殊問題,隨後扼要敘述與電鏡成像原理和圖像解析相關的基本概念。主要篇幅用於闡述適用於聚合物材料的透射電子顯微術和掃描電子...
掃描透射電子顯微鏡是指透射電子顯微鏡中有掃描附屬檔案者,尤其是指採用場發射電子槍作成的掃描透射電子顯微鏡。掃描透射電子顯微分析是綜合了掃描和普通透射電子分析的原...
《掃描電子顯微學及在納米技術中的套用》是由高等教育出版社出版的圖書,作者是...例如場發射槍、背散射電子的探測、X射線元素的圖像化等,已經很大程度地提高了...
(如透射和掃描電子顯微 鏡 )來獲得關於樣品物質的信息,也不是通過高電場使樣品中的電子獲得大於脫出功的能量而形成的發射電流 成象(如場發射電子顯微鏡),並以此...
冷場發射掃描電子顯微鏡m213451是專門為現今技術研究和發展設計的超高解析度儀器[1...m213451在半導體設備和過程評估上也很有用,這種超高解析度的電子顯微裝置可以採用...
《電子顯微技術與套用》是東南大學出版社在2017年4月編輯出版的圖書,作者是徐柏森,楊靜 目錄 1 書籍信息 2 內容簡介 3 目錄 ...
中文名稱 分析電子顯微術 英文名稱 analytical electron microscopy,AEM 定義 用高能電子束照射樣品,收集、測定和分析樣品局部區域發射出的各種信號的理論和技術。...
中文名稱 電子顯微術 英文名稱 electron microscopy 定義 利用各種電子顯微鏡觀察、研究和檢驗材料微觀特徵和斷裂形態特徵的實驗技術。其解析度或放大倍數明顯優於光學...
中文名稱 透射電子顯微術 英文名稱 transmission electron microscopy,TEM 定義 利用穿透薄膜試樣的電子束進行成像或微區分析的一種電子顯微術。能獲得高度局域化的...
場發射掃描電子顯微鏡 北京電子顯微鏡中心管理模式 編輯 中心實行固定研究人員、技術人員和客座研究人員相結合的人事制度。採用委託測試、項目合作研究、共享設備、互聯...
電子顯微學在研究生物大分子結構尤其是超分子體系的結構方面取 得了較大的成果,其在生物學領域的套用越來越受到重視,逐漸成為一種被普遍接受的公認的研究生物大分子...
國家電子顯微術中心NCEM(National Center for Electron Microscopy)是世界上電子顯微術和微表征最重要的中心之一。它是一個由LBNL為美國能源部運行的科學局用戶設施。...
場發射槍掃描電鏡和低壓掃描電鏡、超大試樣室掃描電鏡、環境掃描電鏡、掃描電聲顯微鏡、測長/缺陷檢測掃描電鏡、晶體學取向成像掃描電子顯微術和計算機控制掃描電鏡等...
電鏡三維重構技術是電子顯微術、電子衍射與計算機圖像處理相結合而形成的適於分析...樣品製備主要採用快速冷凍的方法,以保持其天然活性;儀器設備則可採用場發射電鏡和...
28.細胞骨架光學和電子顯微術的關聯第10篇 免疫電子顯微術29.用Lowicryl樹脂的...33.場致發射掃描電子顯微鏡和細胞內部的觀察D 顯微解剖第12篇 組織和染色體顯微...
生物物理研究所於2010年建成了一個世界一流的包括一台300KV Titan Krios場發射低溫透射電子顯微鏡及其高端輔助設施在內的冷凍電子顯微研究平台。利用該平台,我們採用...
同時在PEEM電子光學系統的研製中第一次引入鏡面透鏡的方式完成像差矯正功用,套用半球能量分析器中止光電子的能量選擇,採用場發射電子槍用於低能電子顯微成像和微區...
電子探針微區元素分析技術,透射電子顯微分析技術的發展與套用,化學分析技術進展,高溫合金化學成分icp發射光譜分析技術及化學元素間光譜干擾,原子吸收技術進展,現場材料...